隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，越來越多的領(lǐng)域，特別是材料領(lǐng)域需要精確了解各種材料的微觀 形貌和組織結(jié)構(gòu)，采用掃描電鏡對(duì)其進(jìn)行表征具有重要意義。

采用SEM掃描電鏡觀測(cè)樣品涉及3方面的因素:

（1）掃描電鏡本身分辨率的高低，分辨率越高，觀測(cè)到樣品的微觀組織形貌就越清楚。

（2）放大倍數(shù)與粉末顆粒的尺寸要匹配。對(duì)于顆粒尺寸較小的樣品，需放大上千乃至上萬(wàn)倍才能清晰的觀測(cè)出微觀組織，但是對(duì)于尺寸較大的樣品只需放大很小的倍數(shù)就可以了。

（3）樣品的制備也至關(guān)重要，它直接影響到拍攝照片的清晰度。

粉末的顆粒形狀、顆粒大小及組成、顆粒表面的微觀形貌組織、內(nèi)部結(jié)構(gòu)等粉末特性是重要的物理性能"。在生產(chǎn)中，一般只測(cè)定粉末顆粒的大小及百分比組成，Z常用的方法有篩分法、顯微鏡法、氣體透過法、氣體吸附法、X射線衍射法和SEM掃描電鏡法等，其中掃描電鏡法對(duì)研究粉末的各種復(fù)雜結(jié)構(gòu)與性能具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)，尤其是在觀測(cè)樣品的顆粒形狀、顆粒大小和顆粒表面的微觀形貌時(shí),既方便又直觀。但是，粉末所具有的特性有時(shí)嚴(yán)重影響顆粒的觀察和測(cè)量。對(duì)于超細(xì)粒子的材料來說，由于其具有較大的吉布斯自由能，粒子之間有較強(qiáng)的自發(fā)聚集趨勢(shì)，很容易形成團(tuán)聚，嚴(yán)重影響顆粒的觀測(cè)。因此，利用SEM掃描電鏡研究粉末的很重要一步在于制備出既沒有顆粒團(tuán)聚、又有一定密度，圖像清晰的樣品。