掃描電鏡成像過程中，樣品荷電與圖像異常明亮是兩類典型且易混淆的成像異常現(xiàn)象。前者可能導(dǎo)致圖像扭曲、亮度不均，后者則可能掩蓋樣品真實(shí)形貌。本文將從原理出發(fā)，系統(tǒng)解析兩類問題的成因，并提供針對(duì)性的解決方案。

一、樣品荷電：電子束與樣品的“靜電博弈”

1. 現(xiàn)象與危害

當(dāng)非導(dǎo)電或?qū)щ娦暂^差的樣品（如聚合物、生物組織、陶瓷等）接受電子束轟擊時(shí)，入射電子無法通過導(dǎo)電通路快速釋放，導(dǎo)致電荷在樣品表面積累，形成局部電場。典型表現(xiàn)為：

圖像漂移與扭曲：電荷積累引發(fā)樣品微區(qū)電位變化，導(dǎo)致掃描像偏移或形變；

亮度不均：荷電區(qū)域因電場排斥后續(xù)入射電子，形成暗斑或明暗交替的“馬賽克”圖案；

二次電子信號(hào)異常：荷電電場可能扭曲二次電子運(yùn)動(dòng)軌跡，造成細(xì)節(jié)丟失。

2. 核心成因

導(dǎo)電性不足：樣品本身電阻率高，無法快速導(dǎo)走電荷；

真空環(huán)境限制：高真空下樣品與基底間缺乏氣體導(dǎo)電通道；

電子束能量過高：加速電壓過大導(dǎo)致入射電子動(dòng)能遠(yuǎn)超樣品導(dǎo)電能力。

3. 解決方案

表面導(dǎo)電化處理：

噴金/碳：通過濺射鍍膜在樣品表面形成導(dǎo)電層（厚度5-20 nm），但可能掩蓋納米級(jí)細(xì)節(jié)；

低真空模式：引入微量水蒸氣或氮?dú)?，利用氣體分子輔助電荷導(dǎo)通（適用于部分場發(fā)射SEM）。

優(yōu)化成像參數(shù)：

降低加速電壓：將電壓降至1-5 kV，減少入射電子能量；

縮短駐留時(shí)間：減小單像素曝光時(shí)長，降低電荷積累速率；

啟用電荷補(bǔ)償：部分SEM掃描電鏡支持在樣品臺(tái)施加反向偏壓，中和表面積累電荷。

特殊樣品處理：

臨界點(diǎn)干燥：生物樣品避免表面張力導(dǎo)致的結(jié)構(gòu)塌陷，減少荷電風(fēng)險(xiǎn)；

導(dǎo)電基底固定：將樣品粘貼于導(dǎo)電膠或金屬載片上，增強(qiáng)電荷導(dǎo)通路徑。

二、圖像異常明亮：過度曝光的“光學(xué)假象”

1. 現(xiàn)象與誤判風(fēng)險(xiǎn)

圖像局部或整體呈現(xiàn)刺眼亮斑，可能伴隨細(xì)節(jié)模糊。需注意區(qū)分以下場景：

真實(shí)高反差結(jié)構(gòu)：如金屬顆粒與基底界面（屬正常成像）；

污染或荷電偽影：污染物受電子束激發(fā)產(chǎn)生特征X射線或熒光（需結(jié)合能譜分析）；

成像參數(shù)失調(diào)：探測器增益、對(duì)比度設(shè)置錯(cuò)誤導(dǎo)致的信號(hào)過載。

2. 核心成因

樣品污染：

碳?xì)湮廴荆赫婵涨粴堄嘤驼魵庠跇悠繁砻胬淠軣岷蠓纸鈱?dǎo)電層；

顆粒物污染：灰塵或前序樣品殘留物在電子束下產(chǎn)生強(qiáng)二次電子發(fā)射。

電壓與探測器設(shè)置不當(dāng)：

加速電壓過高：對(duì)于輕元素樣品（如碳基材料），高能電子穿透深度大，激發(fā)更多背散射電子；

探測器模式錯(cuò)誤：誤用背散射電子探測器（BSE）觀察低原子序數(shù)樣品。

設(shè)備狀態(tài)異常：

光闌污染：電子束光闌積灰導(dǎo)致束斑發(fā)散，能量密度降低；

探測器飽和：長時(shí)間高強(qiáng)度信號(hào)輸入導(dǎo)致放大電路過載。

3. 解決方案

樣品預(yù)處理：

等離子清洗：用氬氣等離子體轟擊樣品表面，去除有機(jī)污染物；

高真空預(yù)烘烤：對(duì)易揮發(fā)樣品（如蠟塊）進(jìn)行梯度升溫脫氣。

參數(shù)優(yōu)化：

切換探測器：觀察低原子序數(shù)樣品時(shí)優(yōu)先選用二次電子探測器（SE）；

調(diào)整工作距離：增大物鏡與樣品間距（WD），降低電子束密度；

啟用動(dòng)態(tài)聚焦：補(bǔ)償長WD導(dǎo)致的像差，提升圖像清晰度。

設(shè)備維護(hù)：

定期清洗光闌：使用異丙醇棉簽擦拭光闌孔，避免束斑畸變；

校準(zhǔn)探測器增益：通過標(biāo)準(zhǔn)樣品（如金標(biāo)）驗(yàn)證信號(hào)響應(yīng)線性度。

三、進(jìn)階策略：從“被動(dòng)修正”到“主動(dòng)預(yù)防”

建立成像日志：記錄樣品類型、電壓、束流等參數(shù)，通過數(shù)據(jù)分析優(yōu)化操作流程；

結(jié)合能譜分析：對(duì)異常明亮區(qū)域進(jìn)行EDS mapping，區(qū)分真實(shí)成分與污染信號(hào)；

引入AI輔助：部分新型掃描電鏡支持通過機(jī)器學(xué)習(xí)自動(dòng)識(shí)別荷電區(qū)域并補(bǔ)償圖像畸變。

通過理解樣品荷電與異常明亮的底層機(jī)制，并針對(duì)性地優(yōu)化樣品制備、成像參數(shù)及設(shè)備狀態(tài)，可顯著提升SEM掃描電鏡成像質(zhì)量，為材料表征與失效分析提供可靠數(shù)據(jù)支撐。